Сотрудник ФИЦ ИПФ РАН удостоен премии в области кристаллографии

Заведующий отделом многослойной рентгеновской оптики Института физики микроструктур РАН, доктор физико-математических наук Николай Чхало стал лауреатом премии имени Е.С. Федорова Российской академии наук за цикл работ «Структурная диагностика наноразмерных слоистых систем». Вместе с ним награду разделили коллеги из НИЦ «Курчатовский институт».

Цикл работ посвящен развитию методов диагностики структурных параметров различных физических объектов, содержащих пленки или слои с толщинами наноразмерного масштаба. Ученые изучали как одиночные пленки на твердых и жидких подложках из органических и неорганических материалов, так и многослойные системы. Особое место в исследовании занимают межслоевые переходные структуры, или интерфейсы, которые определяют физико-химические свойства таких сверхтонких объектов.

Основной результат исследований – создание метрологического комплекса для изучения тонкопленочных систем с применением высокоточных рентгеновских методов. Пионерские работы позволили получить принципиально новые знания о процессах молекулярной самосборки на жидких интерфейсах. Научная группа под руководством Николая Ивановича Чхало разработала технологии напыления многослойных зеркал с рекордными в мире коэффициентами отражения в диапазоне мягкого рентгена. А ученые из Курчатовского института занимались развитием и применением синхротронных методов диагностики наносистем.

«Разработанные методы позволят создать новые рентгеновские приборы и достичь нанометрового пространственного разрешения рентгеновских изображений на передовых синхротронах и лазерах на свободных электронах, – рассказывает Николай Иванович Чхало, заведующий отделом многослойной рентгеновской оптики Института физики микроструктур, входящего в состав ФИЦ ИПФ РАН. – Это позволит развивать микроэлектронику, медицину. Наши рентгеновские зеркала будут использоваться в новых космических миссиях по изучению короны Солнца, для рентгеновской микроскопии и литографии. В целом, переход к литографии и микроскопии из оптического диапазона в рентгеновский сулит много нового, пока еще не изученного».

Пресс-центр ИПФ РАН

Подписаться на новости
РОР «НАПП»